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國際內審師知識點:統計分析(過程控制技術)
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統計分析(過程控制技術)
統計過程控制是借助數理統計方法的過程控制工具。它對生產過程進行分析評價,根據反饋信息及時發現系統性因素出現的先兆,并采取措施消除其影響,使過程維持在僅受隨機性影響的受控狀態,以達到控制質量的目的。 由于過程波動具有統計規律性,當過程受控時,過程特性一般服從穩定的隨機分布;而失控時過程分布將發生改變。SPC利用過程波動的統計規律對過程進行分析控制。
統計學家開發出能夠直觀跟蹤過程(程序)的技術,稱為統計控制圖,根據跟蹤的事項不同,分別被稱為P型圖、C型圖、R型圖和x條形圖,等等。P型圖和C型圖用于跟蹤屬性;R型圖和X條型圖用于跟蹤變量。
統計質量控制,是用于決定裝運量或生產量是否在可接受限度內的一種方法,它也常用于決定生產程序是否已經失去了控制。它有助于監督與隨機變量相關的任何程序的進展狀態。統計過程控制的有關術語:
● 指定原因,是指引起變化的非隨機原因。
● 鐘型曲線,又被稱為正態曲線,是總體中隨機變量形成的的正態分布曲線圖。它是完全對稱的,均值、中數和眾數都位于同一中心點,很多值分布在中間點附近,數值越小,離中間點的距離越遠。
● C型圖,是指一種追蹤一群樣本中屬性變化的控制圖(能夠被計算的數值,例如錯誤)。
● 差異系數,是用樣本標準離差除以均值計算出來的,表明了樣本變化程度與均值數值的相關程度有多大。
● 描述統計學,是統計學的一個分支,與數據的收集、分析、描述和說明有關,尤其是與樣本參數(例如,均值、中數、眾數、程度、差異、標準離差)的計算有關。
● 推斷統計學,是統計學的一個分支,與從挑選出來的樣本推斷出總體結論有關。
● 控制下限,在控制圖中從負方向離平均值最遠的數值,但是這些值還位于統計控制范圍內。
● 平均絕對離差,是分布圖中的每個數值距離分布圖中的平均值的平均距離(差額總和除以分布圖中的項目數量)。
● 均值,以希臘字母μ表示,是樣本的中間點,是把樣本中所有項目的數值加總,然后除以樣本中項目數量。通常,均值也被稱為平均值,是描述樣本中心趨勢的計量單位。
● 中數,是由位于樣本中所有數值中間點位置的數值來代表的中心趨勢的計量單位,位于其之上和之下的數值數額相等。
● 眾數,是由祥本中最常出現數值所代表的中心趨勢的計量單位。
● 自然原因,也被稱為一般原因,是引起樣本變化的隨機原因。
● 失去控制,在控制圖中,一個失去控制的數值位于控制上限(UCL)之上,控制下限(LCL)之下,表明被描述的過程可能處于統計控制之外。
● P型圖,是一種追蹤多個樣本中以百分數計量的錯誤(或其他屬性)變化程度的控制圖。
● R型圖,是追蹤多個樣本中數值范圍變化程度的控制圖。
● 控制上限。在控制圖中,控制上限(UCL)是以正方向離均值最遠的數值,但是還處于統計控制范圍內。
● 差異,是計量樣本中數值與樣本中所有數值的均值的分散程度。差異的符號是σ2,是每個數值與均值的差的平方的平均值。差異的平方根就是樣本的標準離差。
● X條形圖,是一種追蹤多個樣本中均值變化的控制圖。
期望值與概率密切相關,用于選擇最好備選方案。期望值等于每個備選方案與其發生概率相乘的乘積的總和。期望值最大的方案應是最優方案。完全信息的期望值(EVPI)是指缺少完全信息的期望值和擁有完全信息并采取了最佳行動后所獲得的收益之間的差額。
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