接觸電阻測(cè)試系統(tǒng)的研制

接觸電阻測(cè)試系統(tǒng)的研制

全部作者： 劉云 第1作者單位： 北京郵電大學(xué) 論文摘要： 接觸電阻是用來表示元器件接觸點(diǎn)之間好壞的標(biāo)準(zhǔn)之1，所以接觸電阻的測(cè)量必不可少，本文對(duì)接觸電阻測(cè)試儀的研制進(jìn)行了闡述，詳細(xì)介紹了系統(tǒng)的各部分組成以及各部分所完成的功能。 關(guān)鍵詞： 接觸電阻，4點(diǎn)法，模數(shù)轉(zhuǎn)換，串口通信 (瀏覽全文) 發(fā)表日期： 2007年07月31日 同行評(píng)議：

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