使用衰減濾光片擴(kuò)大CCD測(cè)溫范圍的研究

使用衰減濾光片擴(kuò)大CCD測(cè)溫范圍的研究

全部作者： 孫元 彭小奇 第1作者單位： 中南大學(xué)物理科學(xué)與技術(shù)學(xué)院 論文摘要： 彩色CCD（電荷耦合器件）應(yīng)用于輻射測(cè)溫時(shí)對(duì)其動(dòng)態(tài)響應(yīng)范圍有著非�？量痰囊�求。由于CCD圖像傳感器的動(dòng)態(tài)響應(yīng)范圍較窄，單獨(dú)利用CCD測(cè)溫時(shí)，測(cè)溫范圍難以達(dá)到高溫檢測(cè)的應(yīng)用要求。為此，有學(xué)者提出利用中性衰減濾光片來(lái)擴(kuò)大測(cè)溫范圍。通過(guò)分析CCD光電轉(zhuǎn)換特性及曝光量與溫度的關(guān)系，指出使用衰減濾光片雖然可以擴(kuò)大測(cè)溫范圍，但是其效果有限，仍難以滿足高溫測(cè)量的應(yīng)用要求，實(shí)驗(yàn)結(jié)果證明了結(jié)論的正確性。 關(guān)鍵詞： 輻射測(cè)量；彩色CCD；衰減濾光片 (瀏覽全文) 發(fā)表日期： 2007年03月30日 同行評(píng)議：

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