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      1. 紅外技術(shù)在電路故障檢測中的應(yīng)用

        時(shí)間:2024-09-16 10:49:28 機(jī)電畢業(yè)論文 我要投稿
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        紅外技術(shù)在電路故障檢測中的應(yīng)用

          摘要:結(jié)合紅外熱成像技術(shù)及圖像處理的方法,可以檢測出電路是否產(chǎn)生故障,并直接定位到故障范圍。由于紅外檢測技術(shù)能夠快速、準(zhǔn)確地檢測出電路故障,因此相關(guān)的研究越來越多,本文主要介紹利用紅外技術(shù)實(shí)現(xiàn)電路故障檢測的方法,并介紹一些研究成型的紅外檢測儀。

          關(guān)鍵詞:紅外熱成像 紅外檢測儀 電路故障

          現(xiàn)代的電子設(shè)備特征為:電路結(jié)構(gòu)更復(fù)雜、元器件集成度更高、電路板層數(shù)更多、設(shè)備更小型化。當(dāng)電子設(shè)備故障時(shí),采用傳統(tǒng)的電路關(guān)鍵點(diǎn)電流電壓檢測法,往往效率低下、精確度不高、多點(diǎn)位故障檢測難度增加,造成故障無法定位而放棄維修,致使電子垃圾越來越多。紅外檢測技術(shù)利用紅外熱成像圖像,不需要對電路原理進(jìn)行詳細(xì)研究,就可以快速、準(zhǔn)確地定位電路故障位置,這一優(yōu)勢使得紅外檢測技術(shù)得到了更加廣泛的研究和應(yīng)用。

          一、紅外無損檢測

          紅外無損檢測是通過測量熱流或熱量來鑒定金屬或非金屬材料質(zhì)量、探測內(nèi)部缺陷的。對于某些采用X射線、超聲波等無法探測的局部缺陷,用紅外無損檢測可取得較好的效果。

          紅外無損檢測主要有如下典型應(yīng)用:

          (1)焊接缺陷的無損檢測。焊口表面起伏不平,采用X射線、超聲波、渦流等方法難于發(fā)現(xiàn)缺陷。若將一交流電壓加在焊接區(qū)的兩端,在焊口上會有交流電流通過。由于電流的集膚效應(yīng),靠近表面的電流密度將比下層大。由于電流的作用,焊口將產(chǎn)生一定的熱量。熱量的大小正比于材料的電阻率和電流密度的平方。在沒有缺陷的焊接區(qū)內(nèi),電流分布是均勻的,各處產(chǎn)生的熱量大致相等,焊接區(qū)的表面溫度分布式均勻的。而存在缺陷的焊接區(qū),由于缺陷的電阻很大,使這一區(qū)域損耗增加,溫度升高。應(yīng)用紅外測溫設(shè)備即可清楚地測量出熱電,由此可斷定熱點(diǎn)下面存在著焊接缺陷。

          (2)鑄件內(nèi)部缺陷探測。有些精密鑄件內(nèi)部結(jié)構(gòu)非常復(fù)雜,采用傳統(tǒng)的無損探測方法,不能準(zhǔn)確地發(fā)現(xiàn)內(nèi)部缺陷。當(dāng)用紅外無損探測時(shí),只需要在鑄件內(nèi)部通以液態(tài)氟利昂冷卻,使冷卻通道達(dá)到最好的冷卻效果,然后利用紅外熱像儀快速掃描鑄件整個(gè)表面,如果通道內(nèi)有殘余型芯或者壁厚不勻,在熱圖中即可明顯地看出。假如冷卻通道暢通,冷卻效果良好,熱圖上顯示出一系列均勻的白色條紋;假如通道阻塞,冷卻液體受阻,則在阻塞處顯示出黑色條紋。

          (3)疲勞裂紋探測。采用一個(gè)點(diǎn)輻射源在蒙皮表面一個(gè)小面積上注入能量。然后,用紅外輻射溫度計(jì)測量表面溫度。如果在蒙皮表面或表面附近存在疲勞裂紋,則熱傳導(dǎo)受到影響,在裂紋附近熱量不能很快傳輸出去,使裂紋附近表面溫度很快升高。當(dāng)輻射源分別一道裂紋兩邊時(shí),由于裂紋不讓熱流通過,因而兩邊溫度有很高。當(dāng)熱源移到裂紋上時(shí),表面溫度下降到正常溫度。實(shí)際測量中,由于受輻射源尺寸的限制,輻射源和紅外探測器位置的影響,以及高速掃描速度的影響,會出現(xiàn)一定的誤差。

          二、紅外檢測在PCB板故障診斷中的應(yīng)用

          現(xiàn)有的常規(guī)電路故障檢測儀都需要通過電路中關(guān)鍵點(diǎn)、線的電壓、電流、阻抗及元器件必要參數(shù)的測量,根據(jù)測量得到的相關(guān)結(jié)果,結(jié)合故障現(xiàn)象和對原理圖的深入理解進(jìn)行仔細(xì)的分析、推斷,才能診斷出電路板的故障部位或故障元器件。通過這種常規(guī)的電路板故障檢測方法很難滿足現(xiàn)代國防的要求,原因在于這種方法存在幾個(gè)缺陷:(1)必須具備電路原理圖、板圖、元器件布列圖等詳細(xì)的維修資料。(2)其測量方法屬接觸測量,測量時(shí)必然影響電路的分布參數(shù),不可能用于高頻電路的實(shí)時(shí)故障檢測。(3)速度慢、費(fèi)時(shí)費(fèi)力,難以滿足戰(zhàn)爭環(huán)境中對時(shí)間和速度的高要求。(4)難以診斷潛在故障,因而很難避免裝備在關(guān)鍵時(shí)刻的突然故障。

          利用紅外檢測技術(shù),不需要工作人員對電路進(jìn)行深入分析,就能對大范圍內(nèi)數(shù)百只器件的工作狀態(tài)同時(shí)進(jìn)行快速不接觸檢測,能在通電后幾十秒甚至幾秒鐘的時(shí)間內(nèi)判別出電路中的故障回路或元器件,檢測時(shí)不會影響電路的頻率特性;而且還能將電路中元器件從完好到故障的狀態(tài)定量的細(xì)分為若干個(gè)等級,這就使維護(hù)人員能及時(shí)發(fā)現(xiàn)電路故障隱患,避免故障在關(guān)鍵時(shí)刻突然發(fā)生。

          三、故障檢測原理及設(shè)備

          電路板在工作時(shí),其上的元器件會散發(fā)熱量,通過紅外儀器可以拍攝到電路板的熱成像圖。故障檢測時(shí),首先,需要拍攝正常的電路板工作時(shí)的熱成像圖,保存到數(shù)據(jù)庫,作為標(biāo)準(zhǔn)板;其次,拍攝存在故障的電路板工作時(shí)的熱成像圖,作為待測板;再次,通過圖像處理的方法,將待測板進(jìn)行預(yù)處理、配準(zhǔn)、比對、信息提取;最后,根據(jù)預(yù)設(shè)的值,得出故障數(shù)量及位置。

          我國由于起步較晚,成型的紅外故障檢測設(shè)備還比較少,目前已有的設(shè)備有王格芳等人研制的“印制電路板紅外故障診斷儀”,是國內(nèi)較早從事紅外檢測方面研究的成型設(shè)備;楊先明、葉玉堂等人研制的TIP-I電路故障檢測儀,對故障的診斷率很高;周孟特等人研制的便攜式紅外電路故障檢測系統(tǒng),使得紅外檢測儀更加小型化。

          四、總結(jié)

          紅外檢測技術(shù)的應(yīng)用是非常廣泛并具有重要意義的,以此引發(fā)的分支研究也越來越多。紅外熱成像是紅外檢測技術(shù)中的一個(gè)關(guān)鍵,一些技術(shù)發(fā)達(dá)的國家競相研究熱成像技術(shù),以巨大的人力和物力進(jìn)行開發(fā),發(fā)展十分迅速。提高紅外圖像處理的準(zhǔn)確度、研制智能化故障檢測設(shè)備都是重點(diǎn)研究方向,今后在這些方面應(yīng)該做更深入的研究。

          參考文獻(xiàn):

          [1] 張勇,王新賽.基于紅外的電路板故障診斷技術(shù)國內(nèi)外發(fā)展現(xiàn)狀[J].科協(xié)論壇,2011(2).

          [2] 戴文遠(yuǎn).基于紅外圖像的故障診斷方法綜述[J].紅外,2013,2(31).

          [3] 王格芳,譚葉雙,王利眾等.印制電路板紅外故障診斷儀[J].儀器儀表學(xué)報(bào),2001,4(22).

          [4] 楊先明,葉玉堂,方亮等.紅外電路故障檢測系統(tǒng)[J].紅外與激光工程,2006,3(35).

          [5] 周孟特,葉玉堂,王智芳等.便攜式紅外電路故障檢測系統(tǒng)[J].光電工程,2011,8(38).

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