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故障信息處理測試中的邊界掃描技術(shù)探討
論文關(guān)鍵詞：邊界掃描技術(shù) JTAG 邊界掃描設(shè)計(jì)
論文摘要：邊界掃描技術(shù)是一種完整的、標(biāo)準(zhǔn)化的可測性設(shè)計(jì)方法，它提供了對電路板上元件的功能、互連等進(jìn)行測試的一種統(tǒng)一方案，極大地提高了系統(tǒng)測試的效率。該文詳細(xì)介紹了邊界掃描測試的原理、結(jié)構(gòu)，討論了邊界掃描測試技術(shù)的應(yīng)用。
集成電路的發(fā)展，特別是VLSI的出現(xiàn)和表面安裝工藝（SMT）的使用，使復(fù)雜的數(shù)字系統(tǒng)和A－SIC的測試變得越來越困難。鑒于此，聯(lián)合測試行動組（JTAG）致力于可測性設(shè)計(jì)方法——邊界掃描技術(shù)的標(biāo)準(zhǔn)化工作，并于1990年被IEEE接納，形成了IEEE 1149.1“測試存取口及邊界掃描設(shè)計(jì)”標(biāo)準(zhǔn)。JTAG標(biāo)準(zhǔn)通過邊界掃描技術(shù)使IC各管腳的可控制性和可觀察性達(dá)到了100％，支持從器件級直至系統(tǒng)級的測試。
1 邊界掃描技術(shù)的基本原理
邊界掃描技術(shù)的工作原理是：JTAG測試儀器使用一個(gè)四線測試接口，將測試數(shù)據(jù)以串行方式由TDI輸入到邊界掃描寄存器中，通過TMS發(fā)送測試控制命令，經(jīng)TAP控制器控制邊界掃描單元完成測試數(shù)據(jù)的加載和響應(yīng)數(shù)據(jù)的采集。最后，測試響應(yīng)數(shù)據(jù)以串行掃描方式由TDO送出到JTAG測試儀器。JTAG測試儀器將捕獲到的響應(yīng)數(shù)據(jù)與期望的響應(yīng)進(jìn)行比較，如果數(shù)據(jù)一致，則說明無故障存在。
邊界掃描測試總線由四個(gè)（另有一個(gè)TRST＊為可選）專用引腳組成：測試數(shù)據(jù)輸入（TestData In，TDI）、測試數(shù)據(jù)輸出（TestData Ou，t TDO）、測試模式選擇（TestMode Selec，t TMS）和測試時(shí)鐘（TestClock，TCK）。主要完成測試矢量輸入、測試相應(yīng)輸出和測試控制。器件內(nèi)邊界掃描結(jié)構(gòu)主要由測試存取口（TestAccessPor，t TAP）、TAP控制器（TAPController）、指令寄存器（Instruction Register，IR）和測試數(shù)據(jù)寄存器（DataRegister，DR）等組成。
邊界掃描測試的所有操作都是經(jīng)由測試訪問端口，在TAP控制器的統(tǒng)一管轄之下實(shí)現(xiàn)的。TAP控制器是一個(gè)16位有限狀態(tài)機(jī)，在TCK的上升沿時(shí)刻，TAP控制器利用TMS管腳的控制信號控制IC中的邊界掃描單元進(jìn)行狀態(tài)轉(zhuǎn)換、測試數(shù)據(jù)的加載和測試響應(yīng)數(shù)據(jù)的采集。測試指令和數(shù)據(jù)通過TDI輸入到測試邏輯，從TDI送入的數(shù)據(jù)在一定的周期（由指令或是測試數(shù)據(jù)寄存器決定）后將輸出至TDO。簡而言之，TAP提供了將指令／數(shù)據(jù)位流（bit stream）移位進(jìn)入，或者移位出核心邏輯的機(jī)制。當(dāng)其為指令位流時(shí)，用來選擇測試邏輯的哪個(gè)寄存器為有效。當(dāng)其為測試數(shù)據(jù)位流時(shí)，用來傳送適當(dāng)?shù)募?lì)／響應(yīng)到測試邏輯的當(dāng)前有效組件中。
2 邊界掃描測試方法
應(yīng)用邊界掃描技術(shù)，可實(shí)現(xiàn)器件間互連通路測試、器件和電路板的靜態(tài)功能測試和器件自測試。不同的測試在不同的工作方式下進(jìn)行。這些工作方式可以通過加載相應(yīng)指令到指令寄存器來選擇。
2.1 內(nèi)測試（IN TEST）
內(nèi)測試測試IC本身的邏輯功能，即測試電路板上集成電路芯片的內(nèi)部故障。測試向量由TDI輸入，并通過掃描路徑移位將測試向量施加到芯片的核心邏輯輸入端，邊界掃描寄存器的輸出單元捕獲核心邏輯的輸出值即響應(yīng)向量，根據(jù)輸入向量和輸出響應(yīng)，就可以對電路板上各芯片的內(nèi)部工作狀態(tài)做出測試分析。
在進(jìn)行內(nèi)測試時(shí)，通過邊界掃描測試總線發(fā)送自測試 “RUNBIST”命令，將芯片配置為自測試模式，自動完成測試矢量加載和測試響應(yīng)分析，并通過邊界掃描測試總線輸出測試結(jié)果。
2.2 外測試方式（EXTEST）
外測試用于檢測各集成電路間連線以及板級互連故障，包括短路故障和斷路故障。此時(shí)邊界掃描寄存器把IC的內(nèi)部邏輯與被測板上其他元件隔離開來。
器件間的互連通路測試是邊界掃描技術(shù)的基本測試類型之一�；痉椒椋簭幕ミB網(wǎng)絡(luò)一端的邊界掃描單元加載輸入值，發(fā)出外部測試“EXTEST”命令，然后通過互連網(wǎng)絡(luò)另一端的邊界掃描單元讀出響應(yīng)值，根據(jù)輸入輸出結(jié)果即可判斷是否存在互連通路上的故障。
在電路板的測試中出現(xiàn)最頻繁的是斷路和短路故障，傳統(tǒng)的逐點(diǎn)檢查的方法既麻煩又費(fèi)時(shí)，而通過邊界掃描技術(shù)的外部測試方式，把從TDO端輸出的邊界掃描寄存器的串行信號與正確的信號相比較，就可以方便有效地診斷出電路板引線及芯片引腳間的斷路和短路故障。這是邊界掃描技術(shù)一個(gè)非常顯著的優(yōu)點(diǎn)。
2.3 采樣測試方式（SAMPLE／RELOAD）
采樣測試方式用于對一個(gè)正在運(yùn)行的系統(tǒng)進(jìn)行實(shí)時(shí)監(jiān)控。當(dāng)集成電路芯片處于正常工作狀態(tài)下，將其數(shù)據(jù)采樣下來，經(jīng)掃描路徑送出來檢查系統(tǒng)的性能。
采樣測試在捕捉階段從輸入端并行輸入引腳的數(shù)據(jù)，為外測試做準(zhǔn)備。輸入單元移出器件標(biāo)識（ID Code）：選擇旁路寄存器，使數(shù)據(jù)在電路芯片間快速移位，可以觀察IC正常工作時(shí)輸入、輸出引腳的數(shù)據(jù)流。
此外還有多種測試指令，他們的存在和不斷擴(kuò)充，使邊界掃描技術(shù)的應(yīng)用得以拓展和延伸，為集成電路的測試提供有效方法。
3 邊界掃描鏈路的實(shí)現(xiàn)
3.1 掃描器件的設(shè)置
電路板進(jìn)行設(shè)計(jì)時(shí)，首先要進(jìn)行測試性的優(yōu)化設(shè)計(jì)，主要有基于貪婪策略的次優(yōu)算法和基于色數(shù)理論的優(yōu)化算法，對電路板上的器件及引腳進(jìn)行優(yōu)化，目的就是設(shè)置最少的測試點(diǎn)獲得最大測試覆蓋面。根據(jù)文獻(xiàn)中的算法，對故障信息處理計(jì)算機(jī)電路的分析設(shè)置的測試點(diǎn)主要包括數(shù)據(jù)和地址總線、片選信號、DSP的讀寫信號等進(jìn)行設(shè)置邊界掃描點(diǎn)。
設(shè)計(jì)掃描電路時(shí)主要有掃描器件直接替換和掃描結(jié)構(gòu)置入兩個(gè)途徑。如果電路中的器件存在同功能的邊界掃描器件，則采用器件直接替換；對不存在同功能的邊界掃描器件的元器件則采用掃描結(jié)構(gòu)置入法來實(shí)現(xiàn)掃描測試。故障信息處理計(jì)算機(jī)電路中的FPGA、CPLD就直接支持邊界掃描功能；開關(guān)量模塊中的緩存器都存在同功能的掃描器件。其他測試點(diǎn)采用掃描結(jié)構(gòu)置入法實(shí)現(xiàn)邊界掃描。首先進(jìn)行簡單的緩沖器、收發(fā)器、驅(qū)動器掃描器件的測試，最后進(jìn)行FPGA、CPLD的掃描。
3.2 邊界掃描控制
整個(gè)系統(tǒng)的邊界掃描控制程序存儲在故障信息處理計(jì)算機(jī)中的，由計(jì)算機(jī)來協(xié)調(diào)實(shí)施整個(gè)測試過程，邊界掃描控制器接口可以在FPGA中實(shí)現(xiàn)，并負(fù)責(zé)向其他的電路板發(fā)送測試數(shù)據(jù)，完成分系統(tǒng)的邊界掃描測試。選用Alter公司的Cyclone系列FPGA芯片，型號是EP1C12F256C6。邊界掃描測試結(jié)果經(jīng)過邊界掃描控制器傳回DSP進(jìn)行處理。FPGA中應(yīng)用的是NIOSⅡ處理器單元，程序并用VHDL語言編寫。
4 結(jié)束語
邊界掃描技術(shù)提供了從元器件到板級直至系統(tǒng)級的完整測試保障方案，已經(jīng)成為可測性設(shè)計(jì)的關(guān)鍵技術(shù)。隨著邊界掃描技術(shù)的發(fā)展和支持邊界掃描的芯片增加，在整個(gè)板級利用邊界掃描技術(shù)進(jìn)行可測性設(shè)計(jì)成為一種必然趨勢。JTAG不僅能測試集成電路芯片的輸入／輸出管腳的狀態(tài)，而且能夠測試芯片內(nèi)部工作情況以及直至引線極的斷路和短路故障。對芯片管腳的測試可以提供100％的故障覆蓋率，且能實(shí)現(xiàn)高精度的故障定位。因此將邊界掃描技術(shù)廣泛應(yīng)用于軍用電子設(shè)備的設(shè)計(jì)和研制當(dāng)中，對降低軍事裝備系統(tǒng)的測試成本以及提高部隊(duì)?wèi)?zhàn)斗力都具有重要的意義。本文結(jié)合一個(gè)具體的故障信息處理系統(tǒng)，給出了邊界掃描技術(shù)在該系統(tǒng)中的設(shè)計(jì)應(yīng)用，經(jīng)過仿真驗(yàn)證、硬件測試，達(dá)到了系統(tǒng)設(shè)計(jì)的功能及指標(biāo)要求。因此，故障信息處理與邊界掃描技術(shù)結(jié)合，能夠快速完成多種電路的測試與診斷，具有廣闊的應(yīng)用前景。
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