中科創(chuàng)達(dá)筆試經(jīng)驗(yàn)
中文：
1、軟件測(cè)試分哪兩種方法、分別適合什么情況?
2、一套完整的測(cè)試應(yīng)該由哪些階段組成?分別闡述?
3、您所熟悉的軟件測(cè)試類型都有哪些?
4、測(cè)試有例設(shè)計(jì)方法都有哪些?
5、缺陷記錄包含哪些內(nèi)容?如何提交高質(zhì)量軟件缺陷記錄?
6、編寫測(cè)試用例包含哪幾個(gè)組成部分?
英文：
只記得翻譯的內(nèi)容：
1、軟件測(cè)試的目的.是發(fā)現(xiàn)缺陷，并且盡可能早的發(fā)現(xiàn)缺陷
2、列舉一些缺陷不能被修復(fù)的原因：計(jì)劃時(shí)間不充分、它不是一個(gè)缺陷、修改它是危險(xiǎn)的、不值得被修改、缺陷沒有適當(dāng)?shù)奶峤?/p>
3、你提交缺陷報(bào)告并且使它們以最好的機(jī)會(huì)被修改的基本原則是什么?
【中科創(chuàng)達(dá)筆試經(jīng)驗(yàn)】相關(guān)文章：
中科創(chuàng)達(dá)筆試題目11-19
筆試經(jīng)驗(yàn)：筆試內(nèi)容準(zhǔn)備09-02
故宮筆試經(jīng)驗(yàn)05-07
銀監(jiān)會(huì)筆試經(jīng)驗(yàn)12-18
招商筆試經(jīng)驗(yàn)12-18
微軟筆試經(jīng)驗(yàn)12-07
求職筆試經(jīng)驗(yàn)12-07
金士達(dá)筆試題目12-04